電壓擊穿試驗(yàn)儀的設(shè)備參數(shù)及產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

一、設(shè)備參數(shù)：

1.輸入電壓：AC 220V

2.設(shè)備功率：3kVA

3.高壓輸出：50kV(交流、直流）

4.電壓精度：<1.5%

5.升壓速度：200V/S~2000V/S(可設(shè)定)

6.電流輸出：60mA

7.電流精度：<1.5%

8.試驗(yàn)方式：擊穿試驗(yàn)、耐壓試驗(yàn)、階梯試驗(yàn)

9、耐壓時(shí)間：（可設(shè)定）

10.設(shè)備尺寸：650mm*500mm*1400mm

11.設(shè)備重量：40KG

二、設(shè)備優(yōu)勢(shì)：

TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：

電壓擊穿試驗(yàn)儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理，對(duì)于電弧放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，。

多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)：

材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5?1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級(jí)電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)對(duì)擊穿后的電壓采集將解決此難題。

低通濾波電流監(jiān)測(cè)技術(shù)：

高壓壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號(hào)。而無(wú)論是國(guó)產(chǎn)與電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號(hào)處理時(shí)，從而造成檢測(cè)不準(zhǔn)確。無(wú)論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號(hào)過(guò)大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測(cè)開(kāi)發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)處理。同時(shí)華測(cè)開(kāi)發(fā)的保護(hù)模塊來(lái)保證采集精度與保護(hù)采集元件。

雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，華測(cè)生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)，它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。技術(shù)，。

SPWM電子升壓技術(shù)：

目前設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)是調(diào)壓器*的。