熱門關(guān)鍵詞：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。

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高溫鐵電測(cè)試儀的系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)及應(yīng)用領(lǐng)域一覽

更新時(shí)間：2021-03-19 點(diǎn)擊次數(shù)：1216

　　高溫鐵電測(cè)試儀可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開(kāi)關(guān)特性等的測(cè)試，。目前該系統(tǒng)測(cè)量溫度800°C,可配置薄膜和塊體測(cè)量夾具，可廣泛應(yīng)用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

　　高溫鐵電測(cè)試儀測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測(cè)試。。儀器采用一體化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡(jiǎn)單方便。

　　高溫鐵電測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域

　　1.鐵電材料的電滯回線（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。

　　2.測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。

　　3.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。

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