薄膜電弱點測試儀器

*    服務(wù)好

華測生產(chǎn)的電弱點測試儀經(jīng)過實踐驗證，穩(wěn)定可靠，目前廣泛應(yīng)用于電氣絕緣材料的電弱點測試

產(chǎn)品簡介：

 該儀器是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標

準要求設(shè)計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄

膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點數(shù)。

采用計算機控制，通過人機對話方式可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行

快速、準確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。

產(chǎn)品用途：

 據(jù)標準《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗方法》，電氣用塑

料薄膜要求進行電弱點測試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點

（電弱點）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標。電氣用塑料薄膜電弱點

測試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進行電弱

點測試。由于薄膜在生過程中極易引起縱向劃傷，該儀器*引

用“電 弱線"概念，即在規(guī)定的時間內(nèi)檢測到的試樣漏電 流均超過

1mA時，認定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過 程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)

生“電弱線"，測試儀統(tǒng)計的電弱點總數(shù)為電弱點數(shù)與電弱線數(shù)之

和，這 樣的測試數(shù)據(jù)史能真實地反映薄膜的質(zhì)顯水平， 且有助于分

析生產(chǎn)過程中存在的問題，從而有針對地提出解決問題的方案。

儀器結(jié)構(gòu)：

 薄膜電弱點測試儀外形為柜狀一體化設(shè)計，左側(cè)為走膜及加壓裝置，

右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測輥等

構(gòu)成面積檢測系統(tǒng)；加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成電弱點檢測系

統(tǒng)。

主要特點:

1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的

要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果

的影響。

2、測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。

3、主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地

保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。

4、測量準確，復(fù)現(xiàn)性好。

5、測試過程采用電子技術(shù)全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅

速。

6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。

7、多重保護功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。

8、過壓、過流、接地保護，試驗平臺門開啟保護。

工作原理：

     本測試儀試驗電壓是0－20kV交直流電壓，其波動為±1%。測試儀在試樣弱點擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點時擊穿，擊穿點自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)

符合標準：

GB/T 13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗方法》

IEC 60674-2:1988《電氣用塑料薄膜標準要求設(shè)計的高壓試驗裝置》

JB 3282《固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿試驗方法》

儀器參數(shù)：

保護設(shè)計：

1、電源間斷保護：如果發(fā)生電源間斷，主控電器馬上跳閘，再次來電

時系統(tǒng)自動復(fù)位。

2、高壓倉開門跳閘：無論在任何狀態(tài)，只要打開高壓倉門，將使主控

繼電器的線圈失電而跳閘。

3、電源保險線：當機內(nèi)故障或試品擊穿后電子開關(guān)未能及時動作時，

該熔絲自動燒斷，切斷電源。

4、接地保護（主機后外板）：本機接地可防止機殼感應(yīng)高壓，保護設(shè)

備和人身。沒有接地不允許通電。

主要配件生產(chǎn)廠家：

變壓器：武高所監(jiān)制

控制系統(tǒng)：PLC

升壓系統(tǒng):spwm華測

繼電器：施耐德

電流傳感器：華測開發(fā)

電壓傳感器：松野

過壓、過流系統(tǒng)： 華測開發(fā)

TVS防護：華測開發(fā)

主要配置：

1、測試主機一臺

2、導(dǎo)電橡膠電極兩對

3、品牌計算機一臺

4、品牌打印機一臺

5、放電裝置一套

6、產(chǎn)品說明書一份

7、產(chǎn)品合格證一份

試驗方便   一機多用

高試驗儀器可以測量交流電壓、直流電壓下的材料電弱點

保證

薄膜電弱點測試儀器

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